机译:用同步加速器X射线断层扫描技术表征VGFB生长的ZnTe单晶
Shimane Univ, Interdisciplinary Fac Sci & Engn, Dept Mat Sci, Matsue, Shimane 6908504, Japan;
Hokkaido Univ, Inst Low Temp Sci, Sapporo, Hokkaido 0600819, Japan;
Kanazawa Univ, Fac Med, Sch Hlth Sci, Kanazawa, Ishikawa 9200942, Japan;
Nikko Met Co Ltd, Cent R&D Lab, Toda, Saitama 3358502, Japan;
X-ray topography characterization; zinc compounds; semiconducting II-VI materials; DISLOCATIONS;
机译:通过同步加速器白色X射线形貌与断层层析技术确定的硅中位错的三维结构
机译:同步加速器白X射线形貌与断层扫描技术相结合测定硅中位错的三维结构
机译:使用同步加速器X射线形貌表征通过边缘界定的薄膜进料生长和卤化物气相外延生长的β-Ga_2O_3单晶中的晶体缺陷
机译:白X射线地形与顶部断层技术结合的Czochralski硅晶体生长中的脱位消除
机译:通过同步加速器白束X射线形貌表征压电单晶中的生长缺陷。
机译:使用Synchrotron X射线散射技术在压缩载荷下人皮质骨中矿物晶体的原理行为
机译:使用同步加速器X射线成像和衍射技术表征多晶材料
机译:LGX和sXGs大块单晶,薄膜和压电器件的同步加速器白光束X射线形貌表征