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机译:超低碳浓度的MCZ硅的晶体生长
Global Wafers Japan Co. Ltd., 30 Soya, Hadano-shi, Kanagawa 257-8566, Japan;
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A1. Impurities; A2. Czochralski method; A2. Single crystal growth; B2. Semiconducting silicon;
机译:具有超低碳浓度的直拉硅晶体的生长
机译:溶液浓度通过二氧化碳超临界溶液(RESS)的快速膨胀对硅上蒽薄膜晶体生长的影响
机译:溶液浓度通过二氧化碳超临界溶液(RESS)的快速膨胀对硅上蒽薄膜晶体生长的影响
机译:具有超级碳浓度的Czochralski硅晶体的生长
机译:氮化铝块状晶体的升华生长和碳化硅外延层的高速CVD生长及其表征。
机译:细菌脂质A触发光学的合成模拟物超微微微克每毫升的液晶微滴过渡专心
机译:液相中铝和硅的浓度对沸石A和X的微晶生长动力学的影响
机译:mCZ:在各种轴向磁场强度下生长的CZ硅晶体中的条纹