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Some stochastic processes yielding a f-ν type of spectral density

机译:一些随机过程产生f-ν型光谱密度

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摘要

Using a specific definition of spectral density for nonstationary stochastic processes, a randomization procedure is used to analyze three types of process likely to be important in physical applications. Thus the symmetric random walk, Ornstein‐Uhlenbeck, and shot‐noise models are generalized and are shown to lead to spectral densities of the form f-ν at low frequencies. Since most systems of interest will contain many contributing sources to the fluctuation, limit probability distributions are employed. It appears that randomized shot noise is probably the relevant process in the behavior of semiconductor current noise.
机译:通过对非平稳随机过程使用特定的频谱密度定义,可以使用随机化程序来分析三种类型的过程,这些过程在物理应用中可能很重要。因此,对称随机游走,Ornstein-Uhlenbeck模型和散粒噪声模型得以推广,并显示出在低频下形成f-ν形式的光谱密度。由于大多数感兴趣的系统将包含许多导致波动的因素,因此采用了极限概率分布。看来随机散粒噪声可能是半导体电流噪声行为中的相关过程。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics 》 |1972年第11期| 共7页
  • 作者

    Tunaley J. K. E.;

  • 作者单位

    Physics Department, University of Western Ontario, London, Ontario, Canada;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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