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机译:GaAs和InP中电子能量弛豫时间的研究
General Electric Research and Development Center, P. O. Box 8, Schenectady, New York 12301;
机译:InGaAs / InP二维电子GaS在电子声子声子相互作用中的能量弛豫
机译:使用自由电子激光在光子能量以下的GaAs / AlGaAs量子阱中子带间弛豫的时间分辨研究
机译:p-GaAs / AlGaAs量子阱中的子带间弛豫寿命低于自由电子激光实验中测得的LO声子能量
机译:具有InGaAs沟道和InGaAs / InP复合沟道的基于InP的高电子迁移率晶体管的微波噪声特性:比较研究
机译:基于N沟道InGaAsP-InP的倒置通道技术器件(ICT)的设计,制造和表征,用于光电集成电路(OEIC):双异质结光电开关(DOES),异质结场效应晶体管(HFET),双极倒置沟道场-效应晶体管(BICFET)和双极型反向沟道光电晶体管(BICPT)。
机译:AlAsGaAs和GaAs / AlAs超晶格的低能辐射响应及其对电子结构的损伤作用的比较研究
机译:InP(100)和GaAs(100)负电子亲和性光电阴极的光电子能量分布的角度依赖性
机译:n-Gaas和n-Gasb中电子皮秒松弛时间的非线性光学研究