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机译:辐照多孔硅的导热率下降到拉曼温度和扫描热显微镜研究的氧化物极限
Univ. Lyon INL UMR 5270 CNRS INSA-Lyon F-69621 Villeurbanne France Univ. Lyon CETHIL UMR5008 CNRS INSA-Lyon Universite Claude Bernard Lyon 1 F-69621 Villeurbanne France;
Univ. Lyon CETHIL UMR5008 CNRS INSA-Lyon Universite Claude Bernard Lyon 1 F-69621 Villeurbanne France;
Univ. Lyon INL UMR 5270 CNRS INSA-Lyon F-69621 Villeurbanne France;
Univ. Lyon INL UMR 5270 CNRS INSA-Lyon F-69621 Villeurbanne France;
机译:扫描热显微镜在介孔硅薄膜热导率测量中的应用
机译:用非侵入式拉曼测温法研究独立式硅纳米膜的热导率降低
机译:光热辐射法和扫描热显微镜对质子辐照ZrC的深入热导率表征
机译:使用拉曼测温法研究硅自支撑膜的热导率降低
机译:使用微拉曼测温和尖端增强拉曼光谱研究薄膜热传输。
机译:在热烃化的多孔硅光学反射镜上热促进十一碳烯酸的添加
机译:用非侵入式拉曼测温法研究独立式硅纳米膜的热导率降低