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机译:在Tao_x设备的热失控阈值切换事件中固有电流过冲
Carnegie Mellon Univ Dept Mat Sci & Engn 5000 Forbes Ave Pittsburgh PA 15213 USA;
Carnegie Mellon Univ Dept Mat Sci & Engn 5000 Forbes Ave Pittsburgh PA 15213 USA;
机译:TaO_x器件中热失控阈值开关事件期间的固有电流过冲
机译:从平面外磁各向异性的自旋转移转矩器件的开关分布估算热稳定性因子和固有开关电流
机译:从平面外磁各向异性的自旋转移转矩器件的开关分布估算热稳定性因子和固有开关电流
机译:考虑多输入切换和堆叠效应的近/亚阈值状态下FinFET器件的高效半分析电流源模型
机译:了解基于Taox的选择设备中的阈值切换
机译:阈值开关设备中的自发电流收缩
机译:阈值开关装置中的自发电流收缩