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The Absorption Displacement in X‐Ray Diffraction by Cylindrical Samples

机译:圆柱样品在X射线衍射中的吸收位移

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摘要

In the precision determination of lattice constants from back reflection Debye‐Scherrer patterns, one of the systematic errors arises from the effect of absorption in the sample. The magnitude and form of the error is calculated for a cylindrical sample, for both parallel and diverging primary beams, and for a representative variety of values of the absorption coefficient. Calling 2φ the back scattering angle (φ=90-θ), it is found that the error in φ caused by absorption can be set proportional to φ. The form of the absorption correction allows it to be lumped in with the other systematic errors for a linear extrapolation according to either Δd/d =Kφ tan φ or Δd/d=K sin2 φ. There is some preference for the former.
机译:在通过背反射Debye-Scherrer图案精确确定晶格常数时,系统误差之一是由样品中的吸收效应引起的。对于圆柱样品,平行和发散的主光束以及代表性的各种吸收系数值,计算误差的大小和形式。将反向散射角设为2φ(φ=90-θ),可以发现由吸收引起的φ误差可以与φ成正比设置。吸收校正的形式允许将其与其他系统误差集中在一起,以便根据Δd/ d =Kφtanφ或Δd/ d = K sin2φ进行线性外推。前者有些偏爱。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1945年第10期|共7页
  • 作者

    Warren B. E.;

  • 作者单位

    Department of Physics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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