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机译:卢瑟福反向散射和全反射X射线荧光研究离子注入Si的近表面密度
Institute for Analytical Sciences (ISAS), Bunsen-Kirchhoff-Strasse 11, 44139 Dortmund, Germany;
机译:Rutherford /弹性背散射和掠入射X射线荧光光谱法研究了深注入硅中的氩离子
机译:深深地植入硅的氩气,由Rutherford /弹性反向散射和放牧入射X射线荧光光谱学研究
机译:重离子散射光谱法对全反射X射线荧光分析中的参考物质进行校准
机译:离子植入的比较研究引起了光谱椭圆形测定法和Rutherford反向散射光谱法研究的多晶和单晶硅中的损伤深度曲线
机译:反向散射Moessbauer光谱仪/ x射线荧光分析仪(BaMS / XRF)用于行星表面材料。
机译:全反射X射线荧光技术对环境痕量重金属进行智能同时定量在线分析
机译:欧格电子能谱,X射线光电子能谱和拉特福德反散射谱(热电池)研究的锂及其化合物的表面反应和表面分析。
机译:利用全反射X射线荧光分析快速经济地分析城市空气尘埃