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机译:通过与温度和注入相关的寿命光谱法分析硅中与钴相关的缺陷水平
机译:使用温度 - 注射依赖性寿命光谱研究溅射非晶硅和热蒸发钼氧化物膜的硅表面钝化研究
机译:随温度变化的光致发光和随注入变化的光导寿命光谱法分析掺硼硅中钛的电子性质
机译:通过依赖于温度和注入的光致发光成像鉴定寿命受限缺陷
机译:通过温度和注射依赖性寿命谱分析硅中的缺陷(T-IDLS)
机译:使用导纳光谱法研究半绝缘4H和6H碳化硅的深层缺陷
机译:激光诱导击穿光谱法分析小鼠脑中模拟硅分散体的淋巴清除率
机译:通过温度和注射依赖性寿命光谱表征溅射A-Si:H钝化硅表面的表征
机译:硅中的载流子寿命测量和重组特性以及与辐射诱导缺陷水平相关的研究现象