机译:随机介质中的检测和成像:克服多重散射和像差的矩阵方法
Institut Langevin, ESPCI ParisTech, CNRS UMR 7587, Vniversite Denis Diderot (Paris VII), Laboratoire Ondes et Acoustique, 10 rue Vauquelin, 75 231 Paris Cedex 05, France;
Institut Langevin, ESPCI ParisTech, CNRS UMR 7587, Vniversite Denis Diderot (Paris VII), Laboratoire Ondes et Acoustique, 10 rue Vauquelin, 75 231 Paris Cedex 05, France;
机译:一种检测强散射多晶中缺陷的随机矩阵方法:记忆效应如何帮助克服多重散射
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机译:FePt薄膜多能x射线全息图的散射图矩阵法重建原子图像
机译:复杂介质中的光学检测和成像:记忆效应如何帮助克服多重散射
机译:I.逆散射亚系列,用于去除内部倍数和深度成像原色;二。格林定理是干涉测量的基础,并指导新的实用方法和应用。
机译:克服衍射极限的高度无序中使用多个光散射
机译:随机介质中的检测和成像:克服的矩阵方法 多次散射和像差