...
机译:用正电子an没光谱研究绝缘体上硅结构中空位型缺陷的演变
Department of Physics, University of Bath, Bath BA2 7AY, United Kingdom;
Department of Physics, University of Bath, Bath BA2 7AY, United Kingdom;
Department of Physics, University of Bath, Bath BA2 7AY, United Kingdom;
Department of Engineering Physics, McMaster University, 1280 Main Street West, Hamilton, Ontario L8S 4L7, Canada;
Surrey Ion Beam Centre, University of Surrey, Guildford GUI 7XH, United Kingdom;
机译:慢正电子An没光谱研究氩注入硅中空位型缺陷的形成和演化
机译:用正电子an没光谱研究He和H离子束共注入后CLAM钢中空位型缺陷的产生
机译:正电子ni没光谱法和纳米压痕技术研究氦注入CLAM钢的空位缺陷和硬度
机译:通过正电子湮没光谱研究Mg植入GaN中空位型缺陷的控制
机译:飞行时间正电子an灭诱导的俄歇电子能谱研究了真空退火下6H-碳化硅的表面改性。
机译:用正电子湮没光谱和互补方法研究了表面机械磨损处理(SMAT)引起的梯度微观结构
机译:用正电子an没光谱研究绝缘体上硅结构中空位型缺陷的演变