机译:使用非常长的声波波长测量薄膜
University of Electro-Communications, 1-5-1 Chofugaoka, Chofu, Tokyo 182-8585, Japan;
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机译:皮秒声传输测量I.金属薄膜中的瞬态光栅产生和声响应检测
机译:用双波长激励测量的光电码法测量研究中Cu / Ga比对Cugase2薄膜深层缺陷的影响
机译:μ反应器中TiO2纳米管薄膜上光催化CO氧化随光强度和波长变化的定量测量
机译:声谐振光谱法测量薄聚合物膜的声阻抗
机译:e逝换热的研究和金属薄膜的声反射系数的测量。
机译:测量由于薄膜干涉引起的光子反射和吸收的波长相关辐射压力
机译:使用非常长的声波长测量薄膜