机译:通过电扫描探针显微镜和透射电子显微镜详细表征聚焦离子束对碳化硅样品造成的横向损伤
Fraunhofer Inst Integrated Syst & Device Technol, D-91058 Erlangen, Germany;
Fraunhofer Inst Integrated Syst & Device Technol, D-91058 Erlangen, Germany;
Univ Erlangen Nurnberg, Chair Elect Devices LEB, D-91058 Erlangen, Germany;
Erlangen Grad Sch Adv Opt Technol SAOT, D-91052 Erlangen, Germany;
Univ Toulouse, CNRS, CEMES, 29 Rue Jeanne Marvig, F-31055 Toulouse, France;
Univ Toulouse, CNRS, CEMES, 29 Rue Jeanne Marvig, F-31055 Toulouse, France;
Univ Toulouse, CNRS, CEMES, 29 Rue Jeanne Marvig, F-31055 Toulouse, France;
Fraunhofer Inst Integrated Syst & Device Technol, D-91058 Erlangen, Germany;
机译:聚焦离子束诱导的硅横向损伤的扫描探针显微镜技术综合研究
机译:聚焦离子束对硅造成的损伤的扫描电容显微镜研究
机译:顺序聚焦离子束扫描电子显微镜分析,用于监测电池复合电极中的循环诱导的形态学演变。 硅 - 石墨电极作为示例性情况
机译:柴油内部喷射器沉积物的表征通过聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM),透射电子显微镜(TEM),原子力显微镜和拉曼光谱。
机译:纳米晶体光伏电池的表征:电子显微镜和通过扫描电子显微镜观察的电子束感应电流
机译:聚焦离子束铣削共聚焦激光扫描显微镜和扫描电子显微镜中免疫反应性的相关分析
机译:通过扫描透射电子显微镜探测卤化卤化汞薄膜的结构演变
机译:用于扫描电子显微镜或透射电子显微镜的纳米级无机材料的样品制备:科学操作程序sOp-p-2。