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机译:使用新的扫描模式和对准的碳纳米管扫描探针显微镜尖端进行临界尺寸测量
SII NanoTechnology Inc., 36-1 Takenoshita, Oyama-cho, Sunto-gun, Sizuoka 410-1393, Japan;
atomic force microscopy; carbon nanotube; critical dimension measurement;
机译:扫描电子显微镜内用于皮牛顿级力测量的碳纳米管探针的校准
机译:碳纳米管“纳米刀”的长度控制和碳纳米管扫描探针显微镜尖端的锐化
机译:基于扫描电子显微镜中电子探针散焦的纳米浮雕元件尺寸测量的新方法
机译:使用新的扫描模式和经过校准的碳纳米管SPM提示进行关键尺寸测量
机译:使用扫描探针显微镜探测低维无机材料的微观特性。
机译:在扫描电子显微镜中进行尺寸测量的电子成像模式的比较
机译:扫描探针技术,用于表征垂直对准碳纳米管
机译:扫描隧道显微镜尖端 - 碳纳米管系统中电子输运的建模