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Experimental measurement of the drag coefficient for a falling raw sugar crystal

机译:下落的生糖晶体的阻力系数的实验测量

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摘要

El efecto de las fuerzas de resistencia sobre cristales de azúcar con forma irregular, tiene un impacto significativo sobre muchas aplicaciones industriales. El coeficiente de resistencia en el descenso de un cristal de azúcar crudo en etanol, fue determinado filmando cristales mediante fotografía de alta velocidad. Estas imágenes fueron analizadas para calcular la velocidad y aceleración de la partícula. El coeficiente de resistencia de los cristales se calculó a través de un equilibrio de fuerzas. Los resultados obtenidos fueron comparados con las predicciones de dos correlaciones comunes para partículas descendentes. Se observó que en las condiciones del ensayo, dichas correlaciones sobreestimaron las predicciones del coeficiente de resistencia. Se observó que la siguiente ecuación es la que mejor describe el coeficiente de resistencia de un cristal de azúcar en descenso: C_D = 68/Re(1+0.004 Re~(0.99)).%The effects of drag forces on irregularly shape crystals have a significant impact on many industrial applications. The drag coefficient for a falling raw sugar crystal was experimentally determined by filming crystals falling through ethanol using high-speed photography. These images were analysed to calculate the velocity and acceleration of the particle, and via a force balance the drag coefficient of the crystals was calculated. The measured results were compared to the predictions of two common correlations for falling particles. It was found that these correlations over predicted the drag coefficient under the conditions observed. The drag coefficient for a falling sugar crystal was found to be more appropriately described by C_D=68/Re(1 + 0.004 Re~(0.99)).
机译:阻力对不规则形状的糖晶体的影响对许多工业应用都有重大影响。乙醇中的粗糖晶体的耐滴落性系数是通过高速摄影对晶体进行成膜来确定的。分析这些图像以计算粒子的速度和加速度。通过力的平衡来计算晶体的电阻系数。将获得的结果与下降粒子的两种常见相关性的预测进行比较。据观察,在测试条件下,这些相关性高估了电阻系数的预测。已观察到以下方程式最能描述下落的糖晶体的电阻系数:C_D = 68 / Re(1 + 0.004 Re〜(0.99))。%拖曳力对不规则形状的晶体的影响为对许多工业应用产生重大影响。通过使用高速摄影对通过乙醇跌落的晶体进行成膜的实验,确定了下落的原始糖晶体的阻力系数。分析这些图像以计算粒子的速度和加速度,并通过力平衡来计算晶体的阻力系数。将测量结果与两个关于下落粒子的常见相关性的预测进行了比较。发现这些相关性在观察到的条件下过度预测了阻力系数。发现下落的糖晶体的阻力系数更合适地描述为C_D = 68 / Re(1 + 0.004Re〜(0.99))。

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