机译:基于CNTFET的10T SRAM的设计和分析,可实现纳米级高性能
St Longowal Inst Engn & Technol Dept ECE Longowal Sangrur 148106 Punjab India;
chirality; CNTFET; delay; dielectric oxide; leakage power; pitch; SRAM; tubes;
机译:基于真实CNTFET的6T,7T,8T,9T和10T的比较分析
机译:基于静电掺杂隧道CNTFET的低功耗SRAM的设计和性能分析
机译:基于静电隧道CNTFET的低功耗SRAM的设计与性能分析
机译:基于施密特触发器的32 nm 10T SRAM的设计与分析
机译:基于7NM FinFET的6T SRAM细胞瞬态和DC分析性能分析
机译:单顶目标俯瞰光板显微镜设计的性能权衡:基于仿真的分析
机译:基于CNTFET的SRAM细胞设计性能评估