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机译:使用行为模型对PMU集成错误进行硅后调试
Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Kharagpur, Kharagpur 721302, India;
Department of Computer Science and Engineering, Indian Institute of Technology Kharagpur, Kharagpur 721302, India;
Department of Computer Science and Engineering, Indian Institute of Technology Kharagpur, Kharagpur 721302, India;
Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Kharagpur, Kharagpur 721302, India;
Integration errors; Mixed-signal circuits; Post-silicon debugging;
机译:基于DRAM的错误检测方法,可减少多个相同内核的硅后调试时间
机译:机箱:使用自动生成的行为模型验证PMU集成的平台
机译:使用马尔可夫模型,具有三种错误和不完美调试的软件可靠性分析
机译:调试硅后验证中与速度路径相关的电气错误的信号跟踪
机译:用于硅后系统片上集成调试的通信为中心的框架
机译:一种调试方案,用于改进硅后验证中的错误识别
机译:调试硅后验证中与速度路径相关的电气错误的信号跟踪
机译:pmEs II模型创作,集成,验证和调试的集成开发环境