机译:Van der Pauw方程所隐含的织物表面电阻的测量不确定度的评估
Department of Architecture of Textiles, Lodz University of Technology, Lodz, Poland|c|;
Implicit measurement model; Monte Carlo method; Van der Pauw equation; Van der Pauw structure; measurement uncertainty; surface resistance; woven fabric; woven fabric.;
机译:Van der Pauw法测量聚吡咯涂层对位芳酰胺织物的薄层电阻
机译:Van der Pauw法测量聚吡咯涂层对位芳酰胺织物的薄层电阻
机译:如果样品边缘没有接触,则用范德堡法测定织物的表面电阻
机译:具有各向异性迁移率的4H-SiC MOS反转层上的范德堡薄层电阻测量的异常行为
机译:超越范德堡:四点磁传输表征的新方法。
机译:使用Van-der-Pauw法评估在柔性无涂层纸基材上喷墨印刷的Ag层的薄层电阻
机译:如果样品边缘没有接触,则采用范德堡方法测定织物表面电阻