机译:非直流应力条件下互连电迁移的数值模拟
Xidian Univ Sch Microelect Minist Educ Band Gap Semicond Mat & Devices Key Lab Xian 710071 Peoples R China;
AC stressing; Electromigration; Interconnects reliability;
机译:焊接互连中电迁移和应力迁移驱动空隙演化的数值模拟
机译:LSI互连线上电迁移中残余应力对空位传输的数值分析
机译:脉冲和双向电流应力下互连的电迁移失效模型
机译:WCSP焊料互连的当前拥挤和应力效应:关于大型电渗透机制在直流和脉冲直流条件下的影响的模拟和实践研究
机译:微电子互连中电迁移和应力空隙的有限元建模。
机译:铜双镶嵌互连的早期电迁移失败的紧凑模型
机译:受限铝互连中机械应力演变和电迁移的二维建模