机译:用于扫描测试的低捕获功率测试生成的新方法
Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology, Iizuka-shi, 820-8502 Japan;
scan testing; capture power; X-bit; IR-drop;
机译:延迟故障测试生成和综合,以标准扫描设计方法进行可测性
机译:销毁无损检测极限:用于超声波检测的伺服控制运动解决方案提供了比以前的方法更快的扫描速度,更多的功能
机译:基于对预先计算的测试集进行划分和精简的基于存储的内置扫描电路测试图生成方法
机译:低捕获功率测试生成,用于基于扫描的高速测试
机译:测试点,部分扫描和全扫描触发器插入的信息理论和频谱方法,以提高集成电路的可测试性
机译:使用连锁扫描数据测试多组基因组位置以丰富疾病位点:一种假设检验的方法
机译:乳球菌链球菌与常规生化反应的Micrscan鉴定和药敏试验方法的比较以及Kirby-Bauer药敏试验方法的比较
机译:使用扫描电子显微镜/能量色散光谱(sEm / EDs)方法分析附着在地毯纤维表面的小颗粒,作为以独立于制造的Chara的方式测试痕量证据的关联的手段