机译:介电涂层圆柱腔的RCS测量和使用IPO-EIBC的计算
Yokohama Rubber Co., Ltd., Hiratsuka-shi, 254-8601 Japan;
electromagnetic scattering; radar cross section; cavities; iterative physical optics; impedance boundary conditions;
机译:蹲缸校准器的快速准确的RCS计算[测量角]
机译:圆柱近场测量的双基地RCS计算—第二部分:实验
机译:圆柱近场测量的双基地RCS计算—第一部分:理论
机译:腔体对微波吸收材料涂层RCS的影响
机译:圆柱形介电耳语-画廊模式太赫兹腔,与介电平板波导耦合。
机译:通过微波腔扰动在反应条件下原位测量催化剂粉末样品介电性能的实验室测试装置:设置和初始测试
机译:介电涂层PEC圆柱体上膜片相互耦合计算的表面阻抗表征