机译:使用积分演算方法的耐噪DAC BIST方案
Yonsei University, 134 Sinchon-dong, Seodaemun-gu, Seoul, Korea;
Yonsei University, 134 Sinchon-dong, Seodaemun-gu, Seoul, Korea;
Catholic University, Yeokgok 2-dong, Wonmi-gu, Gyeonggi, Korea;
Hoseo University, Asan, Chungnam, Korea;
Hoseo University, Asan, Chungnam, Korea;
Yonsei University, 134 Sinchon-dong, Seodaemun-gu, Seoul, Korea;
digital-to-analogue converter (DAC); built-in self-test (BIST); noise-immunity; static testing;
机译:用于低功耗和高分辨率DAC测试的新BIST方案
机译:用于DAC测试的BIST方案
机译:某些三重
机译:ADC / DAC非线性测试的新方法及其在BIST中的应用
机译:Xilinx XC4000E FPGA的新型BIST方案的设计和实现。
机译:冗余机器人机械手运动规划的一种新的噪声容忍避障方案
机译:用于低功耗和高分辨率DaC测试的新BIsT方案