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An approach to evaluate magnetic properties of composite perpendicular media using anomalous Hall effect

机译:利用异常霍尔效应评估复合垂直介质磁性能的方法

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摘要

現行の垂直磁気記録媒体の構成におけるキャップ層及び裏打ち軟磁性層の厚さとホール電圧の関係を検討した。結果、キャップ層から大きなホール電圧信号が選択的に検出された。キャップ層を厚くするとホール電圧は増加することを明らかにした。この現象は、単層の強磁性薄膜でホール電圧が膜厚に反比例するという一般的に知られている現象と大きく異なる。キャップ層の厚さを一定にした場合、裏打ち軟磁性層を薄くするとホール電圧は増加した。実験結果に基づいて模擬した2層構造のモデル計算から異なる異常ホール係数を有する二つの磁性膜の積層構造において一方の層の膜厚が他方と比べて薄い場合異常ホール電圧が膜厚増加に対して増加する領域が存在することを見出した。%Thickness dependence of cap layer and soft underlayer (SUL), two important layers in a perpendicular magnetic recording (PMR) medium, has been investigated using the Hall effects measurement method. Hall voltage was found to be increasing with increasing cap layer thickness, which is quite different from that of a single layer ferromagnetic thin film case, where the Hall voltage is inversely proportional to the film thickness. For a fixed cap layer thickness, Hall voltage was found to be increasing with decreasing SUL thickness. The method can be applied to monitor the cap layer thickness in the manufacturing of capped media. A bi-layer model based on the experimental data predicts that in a stacked structure of different magnetic thin films with different anomalous Hall coefficients there exists a region where Hall voltage increases with increasing thickness of a layer compared to another one.
机译:研究了在现有的垂直磁记录介质中盖层和软磁性底层的厚度与空穴电压之间的关系。结果,从盖层选择性地检测到大的霍尔电压信号。明确了霍尔电压随着盖层的增加而增加。该现象与众所周知的霍尔电压与单层铁磁薄膜中的膜厚度成反比的现象非常不同。当盖层的厚度恒定时,当软磁性底层变薄时霍尔电压增加。根据基于实验结果模拟的两层结构的模型计算,在具有不同霍尔系数的两个磁性膜的层叠结构中,当一层的膜厚度比另一层的膜厚度薄时,异常的霍尔电压会相对于膜厚度增加。已经发现存在随着增加而增加的区域。使用霍尔效应测量方法研究了垂直磁记录(PMR)介质中两个重要层-覆盖层和软底层(SUL)的厚度依赖性,发现霍尔电压随覆盖层厚度的增加而增加。这与单层铁磁薄膜的情况大不相同,后者的霍尔电压与薄膜厚度成反比;对于固定的盖层厚度,霍尔电压随SUL厚度的减小而增加,因此可以应用该方法为了监视盖封介质制造中的盖层厚度,基于实验数据的双层模型预测,在具有不同霍尔系数异常的不同磁性薄膜的堆叠结构中,存在一个霍尔电压随厚度增加而增加的区域与另一层相比。

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