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10400V 耐圧AIGaN/GaNHFET

机译:10400V耐压AIGaN / GaN HFET

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摘要

We report ultra high blocking voltage AlGaN/GaN heterojunction transistors (HFETs) on sapphire using via-holes and thick poly-crystalline A1N (poly-AlN) passivation. Extremely high blocking voltage (BVds) of 10400V is achieved while maintaining relative low specific on-state resistance (Ron·A) of 186mohm·cm2. Via-holes through sapphire at the drain electrodes enable very efficient layout of the lateral HFET array as well as better heat dissipation. The obtained blocking voltage of 10400V is the highest value ever reported for GaN-based transistors.%我々は、サファイア基板に形成したビアホールと厚膜多結晶AINパッシベーションにより、従来の限界を超えた高耐圧でかつ低抵抗なAlGaN /GaN HFETを開発することに成功した。本開発では、サファイアを貫通するビアホールを形成することでドレイン電極を基板裏面に配置し、ウエハ表面での高電圧配線の引回しによる耐圧低下を回避した。また、縁破壊電界が高い多結晶AIN膜を用いることでフィールドプレート直下でのバッシべ一ション膜の絶縁破壊を抑制し、高電圧にも耐えるフィールドプレートを実現した。作製したAlGaN /GaN HFETは良好なトランジスタ特性を示し、耐圧10400V、オン抵抗186mΩcm~2を得た。これまでに報告されたGaN系トランジスタの中で最も高い耐圧を実現することができた。
机译:我们报道了使用通孔和厚多晶A1N(poly-AlN)钝化处理的蓝宝石上的超高阻断电压AlGaN / GaN异质结晶体管(HFET),在保持相对较低的比通量的同时,可实现10400V的极高阻断电压(BVds)。态电阻(RonA)为186mΩcm2。通过漏电极上的蓝宝石的通孔实现了横向HFET阵列的非常有效的布局以及更好的散热。获得的10400V阻断电压是有史以来的最高值通过使用蓝宝石衬底上形成的通孔和厚膜多晶AIN钝化技术,我们已经成功开发出具有高击穿电压和低电阻的AlGaN / GaN HFET,其击穿电压和电阻均超过了常规极限。在该发展中,通过形成穿透蓝宝石的通孔将漏电极放置在基板的背面上,以避免由于高压布线在晶片表面上的布线而引起的击穿电压下降。而且,通过使用具有高边缘击穿电场的多晶AlN膜,抑制了在场板正下方的钝化膜的击穿,并且实现了耐高压的场板。所制造的AlGaN / GaN HFET显示出良好的晶体管特性,并且获得了10400V的耐电压和186mΩcm2的导通电阻。到目前为止,已经有可能在GaN基晶体管中实现最高的击穿电压。

著录项

  • 来源
    《電子情報通信学会技術研究報告》 |2008年第421期|p.39-43|共5页
  • 作者单位

    松下電器産業株式会社 半導体デバイス研究センター〒617-8520 京都府長岡京市神足焼町1番地;

    松下電器産業株式会社 半導体デバイス研究センター〒617-8520 京都府長岡京市神足焼町1番地;

    松下電器産業株式会社 半導体デバイス研究センター〒617-8520 京都府長岡京市神足焼町1番地;

    松下電器産業株式会社 半導体デバイス研究センター〒617-8520 京都府長岡京市神足焼町1番地;

    panasonic Boston Laboratory;

    Panasonic Tbchnologies Company;

    68 Rogers Street Cambridge;

    MA 02142;

    USA;

    松下電器産業株式会社 半導体デバイス研究センター〒617-8520 京都府長岡京市神足焼町1番地;

    panasonic Boston Laboratory;

    Panasonic Tbchnologies Company;

    68 Rogers Street Cambridge;

    MA 02142;

    USA;

    松下電器産業株式会社 半導体デバイス研究センター〒617-8520 京都府長岡京市神足焼町1番地;

    松下電器産業株式会社 半導体デバイス研究センター〒617-8520 京都府長岡京市神足焼町1番地;

    松下電器産業株式会社 半導体デバイス研究センター〒617-8520 京都府長岡京市神足焼町1番地;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
  • 关键词

    GaN; 高耐圧; サファイア基板; ビアホール; フィールドプレート; パワーデバイス; 低オン抵抗;

    机译:GaN;高击穿电压;蓝宝石衬底;通孔;场板;功率器件;低导通电阻;
  • 入库时间 2022-08-18 00:36:50

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