Line information visualized using DEF data, and layout data of unique fault formations makes it possible to indicate fault formations and to detect the intended line names. The former formations are applied to discern the physical analysis positions for real fault LSI. The latter names are used to pull out the gate circuit positions connect to net names among cell circuit. The above data combined with connection information of transistor level has been led to an easy fault diagnosis technology based on voltage value.%DEFデータを用いて視覚化した配線情報と特異な故障形状のレイアウト情報は故障形状の取得と対象とする配線名の識別を可能にする．前者の形状は実LSIでの物理解析を行う上での位置の識別である．後者の配線名はセル間の配線ネット名にリンクした回路上の位置情報の識別である．上記のデータにセルを構成する素子レベルの接続情報を加えることで、簡易な電圧値ベースでの故障診断方式を目指している。
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