机译:开关电容电路中的稳定时间优化导致的热噪声影响
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology S3-03,2-12-1,O-okayama, Megro-ward, Tokyo, 152-880, Japan;
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology S3-03,2-12-1,O-okayama, Megro-ward, Tokyo, 152-880, Japan;
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology S3-03,2-12-1,O-okayama, Megro-ward, Tokyo, 152-880, Japan;
switched-capacitor circuit; switch on-resistance; thermal noise;
机译:开关电容电路中的稳定时间优化导致的热噪声影响
机译:开关电容器电路中的时间优化引起的热噪声效应
机译:面向设计的开关电容电路热噪声估算
机译:在两级CMOS放大器中使用适度的反转来优化电压增益,热噪声和建立时间
机译:通过使用适度的反转来优化CMOS运算放大器的电压增益,热噪声和建立时间。
机译:基因电路中热噪声放大引起的周期倍增
机译:连续时间电路模拟器噪声分析与开关电容电路的仿真。
机译:连续时间和开关电容模拟电路功率估计的Cad工具的开发