キャプチャ時消費電力指向テスト生成における検出疑似外部出力決定法

摘要

High launch switching activity in capture mode during at-speed scan testing may lead to excessive IR-drop. Excessive IR-drop causes test-induced yield loss. A test pattern set is classified to a capture-safe pattern set and a capture-unsafe pattern set. If the launch switching activity exceeds the value of threshold, the test patterns are referred to capture-safe patterns. Other patterns are referred to capture-unsafe patterns. Faults detected by only capture-unsafe patterns are defined as unsafe faults. Other faults are defined as safe faults. It is important to generate capture-safe patterns for unsafe faults to avoid test-induced yield loss due to excessive IR-drop. In this paper, test patterns to unsafe faults for analysis are generated and the launch switching activity is analyzed. The information for a pair of a safe faults and its detected pseudo primary output is used for the analysis. Experimental results for ITC'99 benchmark circuits show that 90% of the test patterns for the analysis are capture-safe when a pseudo primary output where safe faults are detected by capture-safe patterns is the same as the pseudornprimary output where safe faults are detected by test patterns for the analysis.%実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の遷移パターンの消費電力の増大は過度のIRドロップを引き起こし，結果として誤テストを誘発している．キャプチャ時の遷移パターンの消費電力がある指定された閥値を超えるか否かで，テストパターン集合は，キャプチャセーフテストパターン集合とキャプチャアンセーフテストパターン集合に分類される．キャプチャアンセーフテストパターン集合でしか検出できない故障集合をアンセーフ故障集合とし，それ以外の検出故障をセーフ故障とする．この過度なIRドロップのための誤テストを避けるためには，アンセーフ故障に対してキャプチャセーフなテストパターンを生成する必要がある．本論文では，アンセーフ故障に対して検出する疑似外部出力を指定してテスト生成を実行し，そのテストパターンの消費電力を解析する．またセーフテストパターン集合が検出したセーフ故障と検出疑似外部出力のペアの情報を解析に用いる．ITC'99ベンチマーク回路での実験結果から，キャプチャセーフパターンである擬似外部出力で検出されているセーフ故障が，解析用のテストパターンで同じ疑似外部出力でセーフ故障を検出しているとき，その解析用のテストパターン集合の90％が，キャプチャ時の遷移パターンの消費電力が間借以下であることがわかった．