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低転位GaN 基板上縦型HFET

机译:低転位GaN 基板上縦型HFET

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摘要

A novel vertical heterojunction field-effect transistors (VHFETs) with re-grown AlGaN/GaN two-dimensional electron gas channels on low dislocation density free-standing GaN substrates have been developed. The VHFETs exhibit a specific on-resistance of 7.6 mΩcm~2 at a threshold voltage of -1.1 V and a breakdown voltage of 672 V. The breakdown voltage and the figure of merit are the highest among those of the GaN-based vertical transistors ever reported. It was also demonstrated that the threshold voltage can be controlled by the thickness of AlGaN layers and a normally-off operation is achieved.%再成長AlGaN/GaNの2次元電子ガスをチャネルとする低転位GaN基板上の縦型Heterojunction Field-Effect Trasistor(HFET)を開発した.縦型HFETの特性オン抵抗は7.6m Ωcm~2,しきい値電圧は-1.1V,耐圧は 672Vであった.これらの値は,これまで報告のあったGaN系縦型トランジスタを上回る性能指数となる.さらに,AIGaN膜厚の最適化によりノーマリオフ動作が可能であることを確認した.
机译:开发了一种新型的垂直异质结场效应晶体管(VHFET),该晶体管在低位错密度的自支撑GaN衬底上具有重新生长的AlGaN / GaN二维电子气通道,其导通电阻为7.6mΩcm〜2在-1.1 V的阈值电压和672 V的击穿电压下,击穿电压和品质因数是有史以来报道的基于GaN的垂直晶体管中最高的,并且证明了可以控制阈值电压我们在低位错GaN衬底上开发了垂直异质结场效应晶体管(HFET),该衬底以二维生长的AlGaN / GaN电子气体通道为沟道。垂直HFET的特性导通电阻为7.6mΩcm〜2,阈值电压为-1.1V,耐压值为672V。这些值的品质因数比到目前为止报道的GaN垂直晶体管要高。此外,我们确认可以通过优化AIGaN膜厚度来实现常关操作。

著录项

  • 来源
    《電子情報通信学会技術研究報告》 |2010年第273期|p.67-70|共4页
  • 作者单位

    住友電気工業株式会社 〒554-0024 大阪市此花区島屋1-1-3;

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  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
  • 关键词

    AlGaN/GaN; heterqjunction field-effct transistor; GaN基板;

    机译:AlGaN / GaN;异质结场效应晶体管;GaN衬底;
  • 入库时间 2022-08-18 00:34:06

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