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マイクロ波トモグラフィ

机译:微波层析成像

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摘要

Microwave tomography is an inverse scattering problem which determines the shape, location, and profiles of material parameters of unknown objects from the knowledge of scattered fields measured outside the objects. First, we describe the properties of inverse scattering problems different from direct scattering problems. Then we describe the Forward-Backward Time-Stepping method as a time domain inverse scattering analysis. Finally, we consider a microwave mammography technique for early breast cancer detection as an example of its various practical applications.%X線トモグラフィ(断層イメージング)法で使用されるX線の代わりにマイクロ波を用いるトモグラフィはマイクロ波トモグラフィと呼ばれる.マイクロ波トモグラフィは散乱物体を含む対象領域にマイクロ波を照射し、対象領域外の複数の場所で観測した散乱波データを処理することにより、対象領域内の電気定数分布を再構成して散乱物体の位置、形状、大きさ、内部構造を可視化する逆散乱問題である.本報告では,逆散乱問題特有の性質を述べた後,時間領域における逆散乱解法の一つであるForward-Backward Time-Stepping法について説明する.最後にその適用例として初期乳がん検出に用いるマイクロ波マンモグラフィについて検討している.
机译:微波层析成像是一个逆散射问题,它根据对物体外部散射场的了解来确定未知物体的材料参数的形状,位置和轮廓。首先,我们描述与直接散射问题不同的逆散射问题的性质。我们将前向-后向时间步进方法描述为时域逆散射分析。最后,我们将用于早期乳腺癌检测的微波乳房X线照相技术作为其各种实际应用的示例。%X射线断层扫描使用微波代替所用X射线的断层扫描称为微波断层扫描。微波层析成像用微波照射包括散射物体的目标区域,并处理在目标区域外部多个位置观察到的散射波数据,以重建目标区域内的电常数分布并将其散射。它是一个反向散射问题,可以可视化对象的位置,形状,大小和内部结构。在本报告中,我们描述了逆散射问题的特征,然后解释了向前-向后时间步长方法,这是时域中的逆散射解决方案之一。最后,以其应用为例,我们正在研究用于检测早期乳腺癌的微波X线摄影。

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