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二重冗長ソフトコアプロセッサにおけるソフトエラーの高速復旧技術

机译:双冗余软核处理器中软错误的快速恢复技术

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摘要

SRAM型FPGA(Field Programmable Gate Array)は,再構成可能という特徴をもつ反面,ソフトエラーの影響により誤動作を引き起こすおそれがある.故障検出手法の一つであるDWC(Duplication with Comparison)では,二重化したモジュールの出力比較によりソフトエラーの検出を行う.そのため,どちらのモジュールでソフトエラーによる故障が発生したか特定できず,全体再構成による復旧が必要とされる.本論文では復旧時間の短縮を目的として,リードバックと部分再構成を用いた二重冗長ソフトコアプロセッサの復旧手法を提案している.Xilinx社製ⅩC6VLX240Tへの実装を行った結果,単純なDWCシステムと比較して14%の回路規模が増加したが,復旧時間を約75%短縮した.%This paper presents a technique for ensuring the reliability of the softcore processor which implemented with SRAM-based Field Programmable Gate Arrays (FPGAs). Although FPGA is susceptible to soft-error, FPGA can clear these errors due to its reconfigurability. We present, in this paper, the faster fault recovery technique for the duplicated softcore processor. The conventional duplicated circuit cannot identify the faluty circuit which was attacked by SEU. Our technique identifies the faulty processor by partial readback, and repair it by frame-based reconfiguration. As a result of our work, we reduce about 75 % of the recovery time from the recovery technique using full reconfiguration.
机译:SRAM型FPGA(现场可编程门阵列)具有可重新配置的特性,但是由于软错误的影响,可能会导致故障。在故障检测方法之一的DWC(比较复制)中,通过比较重复模块的输出来检测软错误。因此,不可能确定在哪个模块中发生了由软错误引起的故障,因此需要通过完全重新配置进行恢复。在本文中,我们提出了一种使用回读和部分重新配置的双冗余软核处理器恢复方法,以减少恢复时间。由于在Xilinx的XC6VLX240T上实施了该电路,与简单的DWC系统相比,电路规模增加了14%,但是恢复时间却减少了约75%。本文介绍了一种确保使用基于SRAM的现场可编程门阵列(FPGA)实施的软核处理器的可靠性的技术。尽管FPGA容易受到软错误的影响,但FPGA由于其可重新配置性而可以清除这些错误。本文提出了一种用于复制软核处理器的更快的故障恢复技术,传统的复制电路无法识别受到SEU攻击的故障电路。我们的技术通过部分回读来识别故障处理器,并通过基于帧的重新配置对其进行修复。由于我们的工作,我们使用完全重新配置的恢复技术减少了大约75%的恢复时间。

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