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Via数削減による大規模LSIレイアウトの高速DRC手法

机译:通过减少过孔数量的大规模DLSI布局的高速DRC方法

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摘要

GDSⅡなどのレイアウトデータでは,多層配線の配線間の接続箇所にViaが使用されているが,近年,DFM(Design for Manufacturability)技術の浸透により,配置されるViaの数が爆発的に増加している.Via図形のデータが増加すると,DRC(Design Rule Check)を行うEDAツールにとっては,計算コストが増大し,解析に多くの時間とメモリ空間を必要とする.そこで本研究では,解析データからViaを必要最小限まで擬似的に削減し,その上でDRCの一つである配線幅チェックを行った.Viaを削減しない場合と比較して,数倍~数百倍解析時間が短縮された.%In layout data such as GDS II, Vias are used for connection points between multilayer wiring. In recent years, the number of Vias to be arranged has been increasing explosively in accordance with the spread of DFM (Design for Manufacturability) technology. Increase of Via graphic data would rise computation costs for an EDA tool that performs DRC (Design Rule Check) and require long time and memory space for an analysis. Therefore, in this study, Vias were spuriously reduced to minimum from analysis data and the wire width was checked, which was one of the DRCs. Comparing with the case that Vias are not reduced, analysis time has been shortened by several times - several hundred times.
机译:在诸如GDSII的布局数据中,在多层布线之间的连接点使用过孔,但是近年来,由于DFM(可制造性设计)技术的渗透,所放置的过孔的数量急剧增加。当“孔”图的数据增加时,执行DRC(设计规则检查)的EDA工具的计算成本将增加,并且分析需要大量时间和存储空间。将通孔人为地减少到必要的最小值,并进行了DRC之一的布线宽度检查,与不减少通孔的情况相比,分析时间缩短了几百倍至几百倍。在诸如GDS II的布局数据中,通孔被用作多层布线之间的连接点。近年来,随着DFM(可制造性设计)技术的普及,要布置的通孔的数量呈爆炸性增长。 Via图形数据的使用会增加执行DRC(设计规则检查)的EDA工具的计算成本,并且需要较长的时间和存储空间进行分析。因此,在本研究中,Vias虚假地将分析数据和线宽减少到最小被检查,这是DRC之一。与不减少Vias的情况相比,分析时间缩短了几百倍至几百倍。

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