テスト圧縮効率化のためのテスト生成に関する一考察

摘要

近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，テスト対象となる故障モデル数と故障数の增加により，テストパターン数が増大している.テスト品質を維持しながらテストパターン数を削減する方法として，テスト圧縮技術がある.本論文では，2重検出，ドントケア抽出，テストパターンの併合から構成される一連の技術を，圧縮バッファ中のテスト集合に適用する概念を用いた動的テスト圧縮法を提案する.また，ケアビット数が多いテストパターンで検出されると予想できる故障を，できるだけ早い段階でテスト生成するために，テスト生成影響範囲を用いた故障選択法を提案する.ISCAS' 89ベンチマーク回路に，本提案手法を適用した結果，一部の小規模回路に対しては現時点で知られている最小のサイズよりも小さいテスト集合を得ることができた.%In recent year, the numbers of target fault models and faults for testing increase because the number of gates on VLSIs is increasing and their complexity is growing with advances in semiconductor technology. As the result, the number of test patterns drastically increases. Many test compaction methods have been proposed to reduce the number of test patterns maintaining fault coverage. In this paper, we propose a dynamic test compaction method in which double detection, don't care identification, and test pattern merge techniques are applied to a test set in a compaction buffer. We also propose a primary fault selection using influence cones for test generation to generate test patterns for faults which are predicted to be detected by test patterns with many care bits in an early stage. Experimental results for some small circuits of ISCAS'89 benchmark circuits show that the numbers of generated test patterns by our proposed methods are the almost same as the minimal numbers of test patterns.