パルス光ブリルァン利得解析による32分岐スプリッタ下部個別損失分布測定法

摘要

A fault location technique for PONs is essential for improving the service reliability of optical fiber networks. OTDR is a technique that is widely used in conventional testing systems. However, it is unsuitable for PONs because it cannot distinguish Rayleigh back-scattered light from different tributaries. We have proposed a PON fault location technique that uses Brillouin gain analysis, which can locate individual fault points in branched optical fibers without the need to add optical components to the PON system. In this measurement, a branch fiber identification resolution and a fault location resolution are specified individually by setting a probe pulse width and a pump pulse width respectively. In this paper, the proposed method is tested for 32-branched PON with 10 m fault location resolution, 2 m fiber identification resolution, 90 seconds measurement time.%光アクセスネットワークの主形態のPONにおいて、故障位置探索のために所外スプリッタ(SP)からお客様宅までのOTDR試験をする場合、SP下部の各分岐ファイバからの後方散乱光が重なってしまうため、個別に損失分布測定するのは困難である。そこで、我々は既存の光アクセス網を変更せずにSP上部からスプリツタ下部個別の損失分布を測定可能な方法として、SP下部ファイバ長差と遠端反射を利用したブリルアン利得解析法によるSP下部個別損失分布測定法を提案している。本測定法において、ポンプパルス幅とプローブパルス幅を個別に設定することにより、分岐心線を識別する分解能(心線識別分解能)と故障位置を特定する分解能(故障位置分解能)を分けて測定することが可能となる。本手法により、32分岐SP下部において、故障位置分解能10 m、心線識別分解能2 m、測定時間90秒で測定可能なことを確認したので報告する。