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青色半導体レーザァニールによるポリイミド基板上薄膜シリコンの結晶化

机译:蓝色半导体激光退火在聚酰亚胺衬底上薄膜硅的晶化

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摘要

Crystallization of a-Si films on polyimide substrate was achieved using Blue Multi-Laser Diode Annealing. Surface roughness of crystallized films was smooth, and the crystallinity was almost 100% with uniform grains size of〜50 nm.%青色半導体レーザを用いて、ポリイミド上に形成した薄膜シリコンの結晶化を試みた。レーザ照射によって表面平坦性を保ったまま結晶化に成功し、粒径50nm程度の均一な結晶粒をほぼ100%の結晶化率で得られることが分かった。
机译:使用Blue Multi-Laser Diode退火技术在聚酰亚胺衬底上实现了a-Si膜的晶化,晶化后的膜表面平整度高,结晶度几乎达到100%,晶粒尺寸均匀,约为50 nm。我们试图结晶在聚酰亚胺上形成的薄膜硅。发现激光照射在保持表面平坦度的同时成功地结晶,并且以约100%的结晶率获得了具有约50nm的晶粒尺寸的均匀晶粒。

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