ニュース解説

摘要

国立研究開発法人産業技術総合研究所（産総研）と日本電気株式会社（NEC)は，発生確率が極めて低いため設計段階で事前に発見が難しい不具合を，確率的サンプリング手法によりシミュレーションを繰り返して効率的に見つけ出す「希少事象発見技術」を開発した.本技術は，不具合検証時のシミュレーション条件の組合せが膨大になり，製品設計段階で熟練の専門家が費やしていた検証時間の大幅な短縮と，複数不具合の見落としリスクを軽減することが可能である.