机译:基于机器视觉的灰色关联理论在IC标记检测中的应用
Ind. Eng. & Manage. Dept., Yuan Ze Univ., Chung-li, Taiwan;
automatic optical inspection; feature extraction; computer vision; mark scanning equipment; image segmentation; image thinning; machine vision; gray relational theory; IC marking inspection; marking error; incomplete information circumstances; thresh;
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