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机译:He单离子微探针技术在准重离子辐照下评估DRAM的软错误硬度
机译:通过单离子微探针技术评估64 kbit SRAM中软错误硬度的总剂量依赖性
机译:使用单离子微探针识别SRAM中的软错误敏感结
机译:纳米压痕技术评估离子辐照不锈钢的多层硬度
机译:使用质子微探针对DRAM进行软错误评估
机译:微观分析技术在同位素地球化学中的应用:1.〜新墨西哥杰米兹火山场中流纹岩的单晶氩40 /氩39年代测定,对岩浆系统的演化具有重要意义。 2.〜开发用于地质样品同位素分析的激光微探针傅里叶变换质谱仪。
机译:一种新辐照技术的可行性评估:Vero4DRT(MHI-TM2000)进行三维单向辐照
机译:纳米压痕技术评估离子辐照铁素体合金辐照硬化的新方法
机译:高级64mb 3.3V DRam的辐射评估及尺度对辐射硬度影响的见解