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机译:输出约束下用于测试时间/数据和路由长度减少的多扫描树综合
Dept. of Comput. Sci. & Eng., Nat. Sun Yat-Sen Univ., Kaohsiung, Taiwan;
Design for testability; layout; routing; scan tree; test data compression;
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机译:基于紧凑测试模式的最优扫描树设计以减少测试时间
机译:PVT:使用双树扫描架构统一减少测试功率,体积和测试时间
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