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机译:使用扭曲环计数器的重新配置进行三态编码以进行测试数据压缩
Department of Electrical and Electronics Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea;
Automatic test equipment (ATE); logic testing; system-on-chip; system-on-chip (SoC); test data compression; tri-state coding (TSC); tri-state detection; tri-state input; twisted ring counter; twisted ring counter (TRC);
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