机译:客人编辑:介电材料的接口充电现象
Univ Bologna Bologna Italy;
Univ Connecticut Storrs CT USA;
Xi An Jiao Tong Univ Xian Peoples R China;
Univ Bologna Bologna Italy;
Univ Toulouse Toulouse France;
Tsinghua Beijing Peoples R China;
机译:客座社论客座社论TTA关于太赫兹材料和器件的特别部门TTA特别部分太赫兹的材料和器件
机译:表征III-N /介电界面上的电荷俘获现象
机译:高k电介质和SiO_(x)中间层之间的界面处的充电现象
机译:客人编辑:有机发光材料和设备
机译:用于金属氧化物半导体器件的栅极介电材料和介电/硅界面的研究
机译:关于在具有弯曲介电界面的材料中求解时域麦克斯韦方程的沉浸界面方法
机译:客人编辑:介电材料的接口充电现象