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机译:K壳光电横截面测量为36. 818 kev在元件33 z 53
机译:K壳光电横截面测量为36. 818 kev在元件33 z 53
机译:K壳光电横截面测量为36. 818 kev在元件33 z 53
机译:中间Z元素中32. 879 keV处的K壳层光电截面
机译:用于元素Zr,Mo,Cd,ER的k X射线荧光横截面,荧光产率,水平宽度和辐射空位过渡概率为59.54 kev
机译:在n_TOF(CERN)处测量33S(nα)截面:在BNCT中的应用
机译:Cu,Zr,Ag,Sn,Ta,Au和Pb对279.1-和411.8-keVγ射线的K壳层光电截面。
机译:Rma水位统计和地块。 (shell Chemical Company Wells)第1-4,28,33-34和36节。第4卷。