Untersuchungen zur Beeinflussung elektrischer und elektronischer Geräte und Systeme durch elektromagnetische Felder

摘要

Seit 1984 existiert mit der IEC 801-3 eine zivile Norm, die das Testverfahren zur Beeinflussung elektrischer und elektronischer Geräte und Systeme durch elektromagnetische Felder zum Inhalt hat [1]. Das Testverfahren wird zur Zeit durch das zuständige Kommittee der IEC, TC 65 SCA WG4 überarbeitet, da die erste Fassung mit einigen Problemen behaftet ist. Die Überarbeitung befindet sich kurz vor der Fertigstellung und es sollen hier bereits einige wesentliche Gesichtspunkte der 2. Fassung der IEC 801-3 [5], die für das Jahr 1993 zu erwarten ist, erläutert werden. Die Untersuchungs- und Testverfahren zur EMV werden in die Verfahren zur Störaussendungsmessung und zur Störfestigkeitsmessung eingeteilt. Das Meßverfahren zur Beeinflussung durch elektromagnetische Felder zählt zu den Störfestigkeitsmeßverfahren. Wie aus Bild 2 ersichtlich ist, sind die Störfestigkeitsmeßverfahren alle unter der IEC 801 erschienen. Die Numerierung der Meßverfahren nach den neuen IEC-Richtlinien wird sich allerdings demnächst ändern und die Meßverfahren werden neue Nummern erhalten. So wird die IEC 801-3 künftig IEC 1000-4-3 heißen. Analog wird die Bezeichnung der anderen Meßverfahren aus IEC 801 lauten, wobei sich lediglich die letzte Ziffer ändert.