Untersuchungen zur Beeinflussung elektrischer und elektronischer Geräte und Systeme durch elektromagnetische Felder

摘要

Die neue IEC 801 -3 beschreibt die Messung zur Beeinflussung elektrischer und elektronischer Systeme erheblich präziser als die Fassung von 1984. Sie ist generell den Messungen in TEM-Zelle vorzuziehen [2]. TEM-Zelle bieten lediglich eine Alternative für kleine Geräte ohne Kabel (Batteriegeräte). Das Testverfahren gemäß IEC 801-3 ist auch in der neuen pr EN 55 101-3 [3], die demnächst als EN 55 024-3 erscheinen wird, enthalten und wird somit aufgrund der Rahmenrichtlinie zur EMV [4] und der Postverfügung Vfg 241/91 als eines der Testverfahren zur Erlangung des CE-Zeichens spätestens ab dem 1.01.1996 verbindlich vorgeschrieben. Da es sich um ein Testverfahren handelt, welches auch in der Bundesrepublik durch das neue EMV-Gesetz vorgeschrieben werden wird, muß sich jeder Hersteller elektrischen und elektronischen Gerätes mit der Frage beschäftigen, wo er die dement-sprechenden Tests durchführen läßt, wenn er dies nicht selber in seinem EMV-Labor kann.