Analysis of Temperature-rise of the Material Surface over Hidden Defect Thermally Stimulated in Active Thermography

摘要

W artykule przedstawiono wyniki symulacji wymiany ciepła w jednorodnym materiale z defektem położonym na pewnej głębokości. Badany materiał jest poddawany pobudzeniu cieplnemu, a wykrycie defektu jest oparte na analizie przyrostów w czasie temperatury powierzchni materiału, rejestrowanych np. za pomocą kamery termowizyjnej. Zbadano wpływ wybranych czynników na kształt krzywej przyrostów temperatury. Zastosowanie nowej formuły kontrastu termicznego, zwanego kontrastem filtrowanym, do analizy termogramu dostarcza dodatkowej informacji o naturze układu materiał badany - materiał defektu w porównaniu z analizą przyrostów temperatury, co jest pożądane w ocenie defektu.%The paper presents the simulation results of heat transfer in a homogeneous material with an invisible defect located at some depth. The tested material is subjected to thermal excitation and defect detection is based on analysis of temperature-rise of the material surface. Temperature field can be observed by IR camera. The influence of chosen factors on the shape of temperature-rise curves is analyzed. The processed thermogram with a new thermal contrast, called filtered contrast, gives more information on the thermal nature of the arrangement of tested and defect materials than the analysis of the raw temperature-rise that is valuable for quantitativc characterization of defects.