Flying Probe Test inklusive Hochfrequenz-Messung

摘要

Seica stellte das neue System Pilot~(4D)V8 HF vor, das die Flying-Probe-Technologie mit Hochfrequenz-Tests verbindet. Die Entwicklung hin zu immer kleineren Bauteilen und Strukturen in der Elektronik-Branche lässt den Designern wenig oder keinen Raum für Testpunkte. Darüber hinaus führte das Vordringen von Hochfrequenz-Technologien zu einem steigenden Bedarf an Testequipment, das fähig ist, diese typischerweise sehr kleinen Schaltungen zu verifizieren. Das Testen von Leiterplatten-Baugruppen ohne dedizier-te Testpunkte ist seit der Einführung von Fly-ing-Probe-Systemen zuverlässig möglich. Der zusätzliche Bedarf, Hochfrequenzsignale zu messen, ist jedoch eine neuartige Herausforderung. Testingenieure wissen um die Schwierigkeiten, die der Test von Hochfrequenzsignalen bedeutet - selbst unter idealen Bedingungen, die nicht auf herkömmlichen Flying-Probe-Systemen basieren.