首页> 外文期刊>Elektronik Produktion und Prueftechnik >Double sided flying probe tester for substrate test
【24h】

Double sided flying probe tester for substrate test

机译:用于基材测试的双面飞针测试仪

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Atg Luther&Maelzer has added a double sided flying probe system for substrate test to its line of flying probe testers. The S3-8 10 pm substrate tester is the latest model of a new product line launched last year with the introduction of the single sided S3. The single sided S3 and the double sided S3-8 both meet the challenging requirements of high end substrate test such as positioning accuracy and high number of contact points by applying the advanced flying probe technology.
机译:Atg Luther&Maelzer在其飞针测试仪系列中增加了用于衬底测试的双面飞针系统。 S3-8 10 pm基板测试仪是去年随着单面S3推出而推出的新产品线的最新型号。单面S3和双面S3-8均采用先进的飞针技术,可满足高端基板测试的挑战性要求,例如定位精度和高接触点数。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号