机译:通过静态和动态Mach-Zehnder干涉仪测量确定载流子诱导的光学指数和GaInAsP / InP异质结构的损耗变化
Institut d'Electronique, de Microelectronique et de Nanotechnologie, UMR CNRS 8520, Universite des Sciences et Technologies de Lille, Avenue Poincare, BP 69, 59652 Villeneuve d'ascq, France;
机译:GaInAsP / InP异质结构中1.55 / spl mu / m DOS应用中载流诱导的光学指数,损耗变化和载流子寿命的比较
机译:2节GaInAsP / InP激光波导中载流子引起的差分损耗的实验确定
机译:使用光学环镜干涉仪测量GaInAsP / InP波导中泵浦诱导的吸收和折射率变化
机译:基于载波诱导的指数变化的集成INP光开关
机译:基于1.55μm的INP的DFB激光集成Mach-Zehnder调制器的光学反馈效果高达100 GBD数据传输=1.55μm基于INP的DFB激光器集成Mach-Zehnder调制器中的光学反馈效果最多100 GBD D.
机译:静态和动态前段参数的光学相干断层扫描测量的日变化
机译:采用单片Inp mach-Zehnder干涉仪,40 Gb / s的全光再生OTDm分插复用
机译:低损耗GaInasp埋 - 异质结构光波导分支和弯曲。