Mit der richtigen Testumgebung zum Erfolg

摘要

Der Test und die Diagnose von Mikrosysteinen stellen komplexe Anforderungen an die Testgeräte. Vor diesem Hintergrund wird im vorliegenden Beitrag ein allgemeiner Lösungsansatz für einen offenen und flexiblen Test von Mikrosystemen vorgestellt. Dabei steht die praktische Anwendbarkeit im Vordergrund, was durch die Beschreibung einer konkreten Testsystemarchitektur unterstrichen wird. Den Abschluß bildet ein Ausblick auf zukünftige Anwendungsfelder.