机译:MOSFET中有效迁移率测量的分析校正
Department of Electrical and Computer Engineering, NC State University, Raleigh, NC, USA;
MOSFET; Mobility; semiconductor device measurement;
机译:分离式C–V技术在MOSFET中交流信号振荡器电平对有效迁移率测量的影响
机译:利用S参数测量提取MOSFET阈值电压,有效沟道长度和沟道迁移率的新方法
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机译:重掺杂n-MOSFET中的有效迁移率:测量和模型
机译:在小型动物剂量测定环境中,根据心房纤颤消融手术中幻影剂量测量值估算有效剂量,并比较MOSFET和TLD检测器。
机译:使用MOSFET检测器的质子剂量分布测量以及用于LET效应的简单剂量加权校正方法
机译:从小信号沟道电导测量中提取MOSFET阈值电压,串联电阻,有效沟道长度和反型迁移率