...
机译:对称垂直沟道镍硅化多晶硅薄膜晶体管的可靠性分析
National Chiao Tung University, Hsinchu, Taiwan;
Hot-carrier (HC) stress; polycrystalline silicon thin-film transistors (poly-Si TFTs); positive gate bias (PGB) stress; self-heating (SH) stress; symmetric S/D; vertical channel;
机译:具有自对准氧化物过度刻蚀结构的对称垂直沟道镍硅化多晶硅薄膜晶体管
机译:具有高导通/截止电流比的新型对称垂直沟道镍硅化多晶硅薄膜晶体管
机译:镍硅化物诱导的横向结晶技术制造具有对称S / D的垂直N沟道多晶硅薄膜晶体管
机译:低温多Si薄膜晶体管热载波效应对高可靠性的分析
机译:CMOS /多晶硅技术中可变性和可靠性的表征和建模。
机译:全喷墨印刷的薄膜晶体管:通过根本原因分析来确保制造过程的可靠性
机译:全喷墨印刷的薄膜晶体管:通过根本原因分析来确保制造过程的可靠性